Description
Meliputi Rentang telefoto serbaguna, XF 55-200mm f3.5-4.8 R LM OIS dari Fujifilm adalah zoom setara 84-305mm yang cocok untuk olahraga, fotografi acara dan potret wajah. Desain optiknya menggabungkan dua elemen dispersi ekstra-rendah dan satu elemen asferis, yang membantu mengurangi berbagai aberasi untuk mencapai kejernihan dan ketajaman yang lebih baik. Lapisan Super EBC juga membantu menekan flare dan ghosting untuk kontras yang lebih besar dan akurasi warna ketika bekerja dalam kondisi terang dan cahaya latar. Melengkapi optik, sistem stabilisasi gambar optik meminimalkan penampilan goyangan kamera sebesar 4,5 stop untuk menghasilkan foto genggam yang lebih tajam. Selain itu, motor AF linier memberikan performa pemfokusan yang cepat dan senyap, sehingga bermanfaat untuk penggunaan gambar diam dan video.
- Zoom telefoto didesain untuk kamera mirrorless Fujifilm X-mount format APS-C dan menawarkan rentang panjang fokus setara 84-305mm.
- Dua elemen dispersi ekstra-rendah, termasuk satu elemen Super ED, digunakan untuk mengurangi secara drastis fringing warna dan aberasi kromatik untuk menghasilkan kejernihan dan ketepatan warna yang tinggi di seluruh Rentang zoom.
- Satu elemen asferis membatasi distorsi dan aberasi sferis untuk mewujudkan ketajaman yang lebih baik dan rendering yang akurat.
- Lapisan Super EBC sudah diterapkan pada masing-masing elemen untuk mengurangi silau lensa dan ghosting demi meningkatkan kontras dan ketepatan warna apabila bekerja dalam kondisi pencahayaan yang benderang.
- Sistem stabilisasi gambar optik 4,5 stop-efektif meminimalkan munculnya goyangan kamera untuk pemotretan genggam yang lebih tajam dalam kondisi cahaya redup dan dengan kecepatan rana yang lebih lambat.
- Motor linear menghasilkan performa fokus otomatis yang cepat, senyap, dan mulus, yang khususnya bermanfaat ketika bekerja dengan subjek yang bergerak cepat.
- Diafragma tujuh bilah yang membulat memberikan kontribusi untuk kualitas di luar fokus yang menyenangkan Untuk mendapatkan manfaat dari penggunaan fokus selektif dan teknik kedalaman ruang yang dangkal.